Automated Detection Technology（自动探测技术）软件

由VeriPhase提供的Automated Detection Technology（自动探测技术）软件可以与OmniScan探伤仪配合使用 ，以快速处理编码相控阵焊缝数据 。ADT软件处理完数据后 ，会生成一个包含所有相关位置和定量读数的缺陷报表 ，然后会将缺陷报表直接传送到OmniPC软件 ，以协助用户进行数据分析 。

将自动探测技术（ADT）软件与OmniScan探伤仪结合在一起使用 ：

· 降低了分析时间

· 有助于提高检出率和可靠性

· 提供符合规范的高质量的数据

· 改进了检测的工作流程

检测迅速 ，结果可靠

相控阵探伤仪可以非常迅速地采集大量的编码数据 。如果不及时对这些数据进行分析，就有可能形成工作流程中的瓶颈 。

ADT软件处理检测数据文件的方法是自动区分和定量需要进一步分析的缺陷指示 。软件会自动评估数据的质量 ，包括核查耦合剂缺失及数据丢失等情况 。

· 分析结果被直接传送到OmniPC软件的缺陷报表中

· 适于初级和二级数据审查

· 自动定量指示缺陷的长度和高度

工作高效

自动探测技术软件可以在几秒钟之内处理单组或多组文件 ，生成详细的数据质量报告和缺陷指示列表 。当在缺陷指示列表中选择了一个缺陷指示时 ，软件就会自动调整视图和光标 ，以快速显示缺陷在工件中的位置 。在缺陷指示列表中更新或删除缺陷指示的操作非常简便 。

· 快速对文件进行处理

· 只需简单的培训 ，即可轻松自如地操作

· 滑动光标到某个缺陷指示 ，即可迅速了解缺陷的位置

制作详细的报告

无论是在初级检测 ，还是在检测后的回顾过程中 ，这个软件都可以通过清晰简洁的格式为用户提供极具价值的信息。详细的质量报告有助于核查设置参数 ，发现数据质量的问题 ，并可以将生成的缺陷指示分组列出 。

· 可以为所有被分析的组生成缺陷指示列表

· 快速确认所使用的设置是否正确

· 核查数据的质量

· 为所有缺陷指示绘制S扫描和C扫描